Mikrolux nazočio Međunarodnom simpoziju dijatomologa

Posted in News

P1010084.JPG

P1010078.JPG    P1010086.JPG

Zagreb je od 10. do 13. travnja bio domaćin 8. Međunarodnog simpozija srednjoeuropskih dijatomologa. Simpozij je održan u prostorijama Rektorata Sveučilišta u Zagrebu u organizaciji Hrvatskog botaničkog društva.

Ovakav simpozij održava se svake godine i okuplja dijatomologe sa šireg europskog područja. Na zagrebačkom Simpoziju bila su 72 dijatomologa iz 17 europskih zemalja, te iz Japana, SAD-a i Meksika. Održano je 58 prezentacija, a predstavljena je i mikroskopijska oprema nužno potrebna za proučavanje dijatomeja, mikroskopskih fotosintetskih jednostaničnih organizama, koji žive u slatkim vodama i morima, a iznimno su važni za živi svijet jer svojom ulogom kao primarni proizvođači fiksiraju CO2 i proizvode kisik.

Mikrolux je na svom izložbenom prostoru predstavio skrenirajuće elektronske mikroskope tvrtke Tescan, a na brojnim izloženim posterima mogle su se vidjeti fotografije dijatomeja napravljene upravo na Tescanovim mikroskopima. To samo potvrđuje kako su Tescanovi skenirajući elektronski mikroskopi iznimno pogodni i za analize bioloških uzoraka.

Sva četiri dana održavanja Simpozija protekla su u izvrsnoj organizaciji, a osim predavanja bili su upriličeni obilasci Zagreba, izleti na Plitvice i Rastoke, cocktail party, te gala večera. Za odličnu organizaciju, atmosferu i neformalni dio druženja, uz ostale organizatore, zaslužna je doc. dr. sc. Zrinka Ljubešić sa svojim suradnicima s Biološkog odsjeka Prirodoslovno-matematičkog fakulteta.

P1010092 Dijatomi 2 mikroskopski

Dijatomi 1 mikroskopski Dijatomi 3 mikroskopski

Dijatomi 4 mikroskopski Dijatomi 5 mikroskopski

Analytica 2014.

Posted in News

analytica 1        analytica 2

analytica 3

Početkom travnja u Munchenu je održan 24. vodeći međunarodni stručni sajam laboratorijske tehnologije, analiza i biotehnologije, te konferencija Analytica. Ove je godine na taj vrlo posjećeni Sajam došlo čak 34 400 posjetitelja, a svoje su proizvode prezentirala 1 142 izlagača iz 40 različitih zemalja. Kako tvrtka Mikrolux prati trendove i svjetske tehnološke novitete, posjetila je i ovogodišnji sajam Analyticu.

Na Sajmu su zapaženi bili noviteti tvrtke TESCAN ORSAY HOLDING, a.s., normiranog proizvođača skenirajućih elektronskih mikroskopa. Na Sajmu je prezentiran model FERRA3, prvi FIB SEM model u svijetu s potpuno integriranim Xe izvorom plazme. Ipak, najveća pozornost bila je usmjerena prema proizvodu RISE, mikroskopu za korelativnu Raman-SEM mikroskopiju koji je prvi takav proizvod u svijetu. RISE mikroskop je zajednički proizvod tvrtke TESCAN ORSAY HOLDING, a.s. i WITec GmbH.

RISE - PRVI KONFOKALNI I SKENIRAJUĆI MIKROSKOP U JEDNOM SISTEMU

TESCAN ORSAY HOLDING, a.s. i WITec GmbH, njemačka kompanija specijalizirana za Ramanovu i mikroskopiju skenirajućom sondom, zajedno su lansirali ove godine RISE mikroskop na sajmu Analytica 2014. RISE mikroskopija je nova korelativna mikroskopska tehnika koja kombinira Ramanovu konfokalnu mikroskopiju i skenirajuću elektronsku mikroskopiju u jednom integriranom mikroskopskom sistemu. Ova jedinstvena kombinacija ima mnoge prednosti  za korisnika mikroskopa, kao što je opsežna karakterizacija uzorka. Elektronska mikroskopija odlična je tehnika za vizualizaciju površinskih struktura uzorka na nanometarskoj skali, dok je konfokalna Ramanova mikroskopija afirmirana spektroskopska metoda koja se koristi za detekciju kemijskih i molekularnih komponenti unutar uzorka. Pomoću RISE mikroskopa moguće je po prvi put dobivanje SEM i Raman slika s istog područja na uzorku, te korelacija ultrastrukturalnih i kemijskih informacija pomoću jednog mikroskopskog sistema.

Obje analitičke metode su u potpunosti integrirane u RISE mikroskop. Između različitih mjerenja, ekstremno precizno postolje automatski prebacuje uzorak unutar mikroskopske komore pod vakuumom te ga repozicionira. Integrirani RISE software obavlja podešavanje željenih parametara te podešavanje instrumenta. Dobiveni rezultati se mogu korelirati, te se mogu preklopiti SEM i Raman slike. "RISE mikroskopija pruža jedinstvene prilike za najopsežniju ultra-strukturalnu te molekularnu analizu uzorka.", objašnjava Dr. Olaf Hollricher, CEO i direktor R&D u kompaniji WITec.

Jaroslav Klima, predsjednik Uprave i CEO u TESCAN ORSAY HOLDING-u kaže: "Jako smo zadovoljni suradnjom s WITec-om, a naš zajednički cilj je ponajprije zadovoljstvo kupaca. Smatramo ovo važnim korakom u razvoju integriranih sistema za promatranje i analizu uzorka na nano skali. RISE mikroskop će znatno obogatiti TESCAN-ov portfolio high-end proizvoda te naglasiti njegovu vodeću poziciju na tržištu elektronskih mikroskopa."

RISE mikroskop ima sve funkcije i karakteristike samostalnog SEM-a i konfokalnog Ramanovog mikroskopa. SEM i Raman su visoko rezolucijske tehnike snimanja s rezolucijom ispod nanometra i difrakcijom ograničenom na 200 - 300 nm. U Raman modalitetu snimanja, uzorak može biti skeniran u opsegu 250 µm x 250 µm x 250 µm. RISE mikroskopija spaja jednostavno korištenje s prednostima izuzetne analize te je zato prikladna za mnoštvo aplikacija poput nanotehnologije, znanosti o materijalima ili prirodne nauke.

WITec i TESCAN zajedno su razvili RISE mikroskop unutar UnivSEM projekta. UnivSEM sedmi je projekt financiran od strane Europske unije. Tvrtke, sveučilišta i istraživačke institucije iz Češke Republike, Njemačke i Švicarske sudjelovale su u njemu. EU projekt podržava razvoj dodatnih analitičkih alata za skenirajuću elektronsku mikroskopiju.

         

 

Mikrolux na Institutu za oceanografiju i ribarstvo u Splitu

Posted in News

Tvrtku Tescan, koja je vodeći svjetski proizvođač skenirajućih elektronskih mikroskopa, predstavio je na splitskom Institutu za oceanografiju i ribarstvo direktor Mikroluxa, Marin Šoufek, generalni zastpunik Tescana za Hrvatsku i zemlje regije. Tom prilikom istaknut je značaj i ekspanzija Tescana na svjetskoj razini, a između velikog broja Tescanovih modela elektronskih mikroskopa, direktor Mikroluxa posebno je izdvojio model Mira. Naime, taj je model napravljen u skladu s najnovijim tehnologijama te svojim korisnicima omogućuje veliku brzinu rada i preciznost. Koristi ga se kako u znanosti tako i u industriji, a zbog svojih tehničkih mogućnosti izuzetno je pogodan Institutu za oceanografiju i ribarstvo s obzirom na posebne uvjete koji su potrebni u analizi osjetljivih bioloških uzoraka s kakvima Institut pretežno radi. Veliko zanimanje djelatnika Instituta izazvalo je i predstavljanje softverske aplikacije za biološke uzorke koja rad na elektronskom mikroskoopu čini još lakšim i jednostavnijim. Osim djelatnika Instituta za oceanografiju i ribarstvo, prezentaciji Mikroluxa nazočili su i djelatnici Kemijsko-tehnološkog fakulteta Split.

 

Godišnji sastanak Hrvatskog mikroskopijskog društva

Posted in News

Na Fakultetu kemijskog inženjerstva i tehnologije Sveučilišta u Zagrebu, 5. prosinca je održan 21. godišnji sastanak Hrvatskog mikroskopijskog društva. Uz izlaganja predavača s Fakulteta kemijskog inženjerstva i tehnologije, predstavili su se i zastupnici i proizvođači opreme za mikroskopiju. Tvrtka Mikrolux, generalni zastupnik Tescana za Hrvatsku i zemlje regije, predstavila je Tescanova najnovija dostignuća i inovacije  u 2013. godini.

      P1010003  P1010002  P1010006

Combination of orthogonal TOF-SIMS with FIB-SEM by TESCAN captured interest of scientists in Korea

Posted in News

Institute of Photonics and Electronics (ÚFE) in collaboration with scientists from TESCAN presented at 19th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-19) in Korean Jeju scientific poster concerning Imaging of Dopant Distribution in Optical Fibers with an Orthogonal TOF-SIMS.

Korean Jeju hosted acknowledged experts in TOF-SIMS at the end of September 2013. During his poster presentation, RNDr. Jan Lorinčík, CSc. (ÚFE) pointed out that the elemental analysis of optical fiber cross-sections requires a sensitive high spatial resolution technique and the number of techniques or instruments which can fulfill those demands is very limited. In his research, compact orthogonal TOF-SIMS spectrometer integrated with a FIB-SEM system combined with EDX was used. He found that this method fully meets the demands of his research.

TOF-SIMS

The mass spectrometry (MS) is a method which uses specimen ionization (a small volume) for determination of the masses of atoms, molecules and molecule fragments. The Time of Flight (TOF) Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) uses different time of flight of charged particles as the separation method.

Source: http://www.tescan.com/en

Online bookmaker the UK whbonus.webs.com William Hill
http://bigtheme.net/wordpress
Сачак/Ламперия Прочети тук